Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045 → Полупроводниковые приборы прочие
31.080.99. Полупроводниковые приборы прочие
-
Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей -
Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости
Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;
метод замещения;
методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный -
Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения
Semiconductor emitters. Methods for measuring of relative spectral energy distribution and spectral bandwidth
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения -
Излучатели полупроводниковые. Основные параметры
Semiconductor photoemitters. Main parameters
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые полупроводниковые оптоэлектронные излучатели: инфракрасные излучающие диоды и светоизлучающие диоды и устанавливает ряды и допускаемые сочетания значений основных параметров
